元器件种类：	半导体器件测试仪	测量精度（f·s）：	±5%
测试状态：	静态	萃取液总体积( l)：	约17
萃取液比重：	0.85～0.855	测试板最大尺寸（c m）：	60×35
容器容积（mm）：	352×70×600（lxwxh) 可定制

离子污染测试仪｜清洁度测试仪｜离子浓度测试仪ASIDA-LZ12介绍
离子污染测试仪，用于测试印制电路板的离子浓度，也可应用到元器件或电路板装配后的离子浓度测试。广泛用于元器件或电路板生产企业及电子电气设备生产、组装行业。
离子污染测试仪｜清洁度测试仪｜离子浓度测试仪ASIDA-LZ12主要参数
LZ12离子污染测试仪用于检测印制板表面离子污染浓度的仪器，具有以下主要特点：
1.4.1测量板型范围：总面积范围为1 200 cm2～4 200 cm2：其中测量板的最大尺寸为35 cm×
60 cm.单片线路板面积不足1 200 cm2时，可增加为多片，且总面积不超过4 200 cm2；特殊用户要求，可作相应调整。
离子污染测试仪｜清洁度测试仪｜离子浓度测试仪仪器主要特点
爱思达 LZ12离子污染测试仪用于检测印制板表面离子污染浓度的仪器，具有以下主要特点：
1.4.1测量板型范围：总面积范围为1 200 cm2～4 200 cm2：其中测量板的最大尺寸为35 cm×
60 cm.单片线路板面积不足1 200 cm2时，可增加为多片，且总面积不超过4 200 cm2；特殊用户要求，可作相应调整。
1.4.3带加热装置。仪器工作于环境温度22±3℃时，萃取液可通过加热装置加热至40℃，工作时，电导率显示的萃取液温度为40℃±2℃；环境温度的变化会导致电导率显示的萃取液温度发生变化，当电导仪显示温度超过45℃时，应停机检修。
1.4.4测试采用静态测试方法。即测试分为搅拌和再生两个过程。再生过程保证萃取液初始状态为“清洁”，使萃取液电阻率达到测试条件（66M或50M）。搅拌将印制板表面离子完全萃取到萃取液中，使萃取液电导率达到一个稳定的状态［“稳定的状态”并不意味着电导率不变，而是电导率随时间的变化率达到由测试系统本身造成的额定增长率。］。
1.4.5采用***（分析纯）与去离子水体积比为3：1的溶液作为萃取液。萃取液总体积约为17L.
1.4.6仪器采用PC机进行控制，通信方式为串口（RS232）通信。
主要特点
2.2.1对仪器进行控制，完成预热、测试、再生等操作。操作简单方便。
2.2.2设置被测印制板参数、系统测试参数和系统校准参数。
2.2.3保存、打开或打印测试结果，测试结果导出为EXCEL文档。可以保存的记录数取决于PC机的存储容量，通常情况下可以保存超过10万笔以上的测试结果。
2.2.4实时显示电导率曲线和离子浓度曲线，测试过程更直观。