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正置微切片金相显微镜LV150

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信息简介:正置微切片金相显微镜LV150

正置微切片金相显微镜LV150详细信息:
“正置微切片金相显微镜LV150”参数说明
透镜形状: 球、半球 仪器放大倍数: 1000x以上
类型: 金相显微镜 显微原理: 光学显微镜
可移动性: 台式显微镜 筒数: 三筒及以上
观察方法: 明场、暗场和简易偏光 观察图像: 正立镜像图
光学系统: Cfi 60光学系统 载物台: LV-s32 (行程:75×50 mm )
“正置微切片金相显微镜LV150”详细介绍
微切片金相显微镜/测量分析金相显微镜/光学切片分析显微镜LV150应用范围基于模块化设计这一全新概念,ECLIPSE LV 系列实现划时代的多样性。作为面向工业领域的新型显微镜,可以从容应对开发、品质管理、制造工序内部检查等广泛的观察需求。
尼康金相显微镜/正置金相显微镜/显微镜LV150的用途
用于IC元件、金相切片等微小尺寸的测量及分析。使用智能软件测量,精确度高,有效减小人为测量误差。易学易用,可轻松实现点到点、线到线、圆弧、半经、直经、角度等相关尺寸的精确测量与分析。轻松拍摄测量图片并自定义各种测试报告。
金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究、检查、检测的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
爱思达金相显微镜,专用于PCB金相分析系统中,用于IC元件,金相切片等微小尺寸的测量和分析。昆山正业电子自主研发生产的金相分析系列、切片研磨机、自动取样机、离子污染测试仪、剥离强度测试仪、UV激光切割机、外观检查机、X光检查机、孔径孔数检查机、特性阻抗测试仪、锂离子电池X光检测仪系列、自动外观检查仪和V槽残厚测量仪等40余种适用于硬/挠性板的测试仪器装备及电子板辅料。
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